Embedding test vectors in accumulator - based TPG using progressive search

Βογιατζής, Ιωάννης; Ευσταθίου, Κωνσταντίνος; Σιδηροπούλου, Κλειώ
URI: http://hdl.handle.net/11400/15673
Ημερομηνία Δημοσίευσης: 2013
Τύπος Τεκμηρίου: Δημοσίευση σε περιοδικό
Όνομα Περιοδικού: Proceedings of the 2013 8th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
In this paper we present a novel solution to the test vector-embedding problem for sequences generated by accumulators. The time overhead of the solution is of the order O(k), where k is an arbitrarily small constant. Comparisons with previously proposed schemes indicate that the proposed method results in lower test application time.
Πηγή: https://www.ieee.org
Θέμα: Technology, Electronics, Τεχνολογία, Ηλεκτρονική

Εμφάνιση πλήρους εγγραφής

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Οι παρακάτω άδειες σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο:

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)

Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες Εκτός από όπου ορίζεται κάτι διαφορετικό, αυτή η άδεια περιγράφεται ως Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες