Εμφάνιση απλής εγγραφής

dc.contributor.author Rajta, István en
dc.contributor.author Baradács, Eszter en
dc.contributor.author Χατζηχρηστίδη, Μαργαρίτα el
dc.contributor.author Βαλαμόντες, Ευάγγελος Σ. el
dc.contributor.author Uzonyi, Imre en
dc.date.accessioned 2015-05-18T17:49:50Z
dc.date.available 2015-05-18T17:49:50Z
dc.date.issued 2015-05-18
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/11400/10686
dc.rights Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ *
dc.source http://www.elsevier.com en
dc.subject Epoxy and polystyrene based chemically amplified polymer resists
dc.subject High aspect ratio technologies
dc.subject Proton beam micromachining
dc.subject Τεχνολογίες με υψηλή αναλογία διαστάσεων
dc.subject Μικρομηχανική ακτίνα πρωτονίου
dc.title Proton beam micromachining on strippable aqueous base developable negative resist en
heal.type journalArticle
heal.classification Technology
heal.classification Electrical engineering
heal.classification Τεχνολογία
heal.classification Ηλεκτρολογία Μηχανολογία
heal.classificationURI http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh85133147
heal.classificationURI http://zbw.eu/stw/descriptor/18426-4
heal.classificationURI **N/A**-Τεχνολογία
heal.classificationURI **N/A**-Ηλεκτρολογία Μηχανολογία
heal.contributorName Ράπτης, Ιωάννης Α. el
heal.identifier.secondary DOI: 10.1016/j.nimb.2005.01.094
heal.language en
heal.access campus
heal.publicationDate 2005-04
heal.bibliographicCitation RAJTA, I., BARADACS, E., CHATZICHRISTIDI, M., VALAMONTES, E.S., UZONYI, I., et al. (2005). Proton beam micromachining on strippable aqueous base developable negative resist. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. [online] 231 (1-4). p. 423-427. Available from: http://www.elsevier.com[Accessed 17/03/2005] en
heal.abstract Nowadays a significant amount of research effort is devoted to the development of technologies for the fabrication of microcomponents and microsystems worldwide. In certain applications of micromachining high aspect ratio (HAR) structures are required. However, the resist materials used in HAR technologies are usually not compatible with the IC fabrication, either because they cannot be stripped away or because they are developed in organic solvents. In the present work the application of a novel chemically amplified resist for proton beam micromachining is presented. The resist based on epoxy and polyhydroxystyrene polymers is developed in the IC standard aqueous developers. The exposed areas can be stripped away using conventional organic stripping solutions. In order to test the exposure dose sensitivity and the lateral resolution, various test structures were irradiated. Using this formulation 5-8 μm wide lines with aspect ratio 4-6 were resolved. en
heal.publisher Elsevier en
heal.journalName Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms en
heal.journalType peer-reviewed
heal.fullTextAvailability true


Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

  • Όνομα: 1-s2.0-S0168583X0500114X-main.pdf
    Μέγεθος: 215.2Kb
    Μορφότυπο: PDF

Οι παρακάτω άδειες σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο:

Εμφάνιση απλής εγγραφής

Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες Εκτός από όπου ορίζεται κάτι διαφορετικό, αυτή η άδεια περιγράφεται ως Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες