Εμφάνιση απλής εγγραφής

dc.contributor.author Αναστασιάδης, Κίμων el
dc.contributor.author Σταύρακας, Ηλίας el
dc.contributor.author Τριάντης, Δήμος Α. el
dc.contributor.author Κυριαζόπουλος, Αντώνης el
dc.contributor.author Νίνος, Κωνσταντίνος Δ. el
dc.date.accessioned 2015-06-22T18:25:08Z
dc.date.issued 2015-06-22
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/11400/17652
dc.rights Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ *
dc.source http://www.inderscience.com/ el
dc.title Rock damage estimation with dielectric loss (tanδ) measurements el
heal.type journalArticle
heal.classification Technology
heal.classification Electrical engineering
heal.classification Τεχνολογία
heal.classification Ηλεκτρολογία Μηχανολογία
heal.classificationURI http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh85133147
heal.classificationURI http://zbw.eu/stw/descriptor/18426-4
heal.classificationURI **N/A**-Τεχνολογία
heal.classificationURI **N/A**-Ηλεκτρολογία Μηχανολογία
heal.dateAvailable 10000-01-01
heal.access forever
heal.journalName International Journal of Microstructure and Materials Properties el
heal.journalType peer-reviewed
heal.fullTextAvailability false


Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Οι παρακάτω άδειες σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο:

Εμφάνιση απλής εγγραφής

Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες Εκτός από όπου ορίζεται κάτι διαφορετικό, αυτή η άδεια περιγράφεται ως Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες