Show simple item record

dc.contributor.author Τσέλιος, Κωνσταντίνος el
dc.contributor.author Ζώης, Ηλίας Ν. el
dc.contributor.author Σιώρης, Ηλίας el
dc.contributor.author Νασιόπουλος, Αθανάσιος Α. el
dc.contributor.author Οικονόμου, Γεώργιος el
dc.date.accessioned 2015-06-25T13:30:04Z
dc.date.issued 2015-06-25
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/11400/18626
dc.rights Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ *
dc.title Grid-based feature distributions for off-line signature verification en
heal.type journalArticle
heal.classification Electrical engineering
heal.classification Electronics
heal.classification Ηλεκτρολογική μηχανική
heal.classification Ηλεκτρονική
heal.classificationURI http://skos.um.es/unescothes/C01311
heal.classificationURI http://zbw.eu/stw/descriptor/10455-2
heal.classificationURI **N/A**-Ηλεκτρολογική μηχανική
heal.classificationURI **N/A**-Ηλεκτρονική
heal.dateAvailable 10000-01-01
heal.language en
heal.access forever
heal.journalName IET Biometrics en
heal.journalType peer-reviewed
heal.fullTextAvailability true


Files in this item

  • Name: No9.pdf
    Size: 353.2Kb
    Format: PDF

The following license files are associated with this item:

Show simple item record

Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες Except where otherwise noted, this item's license is described as Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες