| dc.contributor.author | Τσέλιος, Κωνσταντίνος | el |
| dc.contributor.author | Ζώης, Ηλίας Ν. | el |
| dc.contributor.author | Σιώρης, Ηλίας | el |
| dc.contributor.author | Νασιόπουλος, Αθανάσιος Α. | el |
| dc.contributor.author | Οικονόμου, Γεώργιος | el |
| dc.date.accessioned | 2015-06-25T13:30:04Z | |
| dc.date.issued | 2015-06-25 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11400/18626 | |
| dc.rights | Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες | * |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ | * |
| dc.title | Grid-based feature distributions for off-line signature verification | en |
| heal.type | journalArticle | |
| heal.classification | Electrical engineering | |
| heal.classification | Electronics | |
| heal.classification | Ηλεκτρολογική μηχανική | |
| heal.classification | Ηλεκτρονική | |
| heal.classificationURI | http://skos.um.es/unescothes/C01311 | |
| heal.classificationURI | http://zbw.eu/stw/descriptor/10455-2 | |
| heal.classificationURI | **N/A**-Ηλεκτρολογική μηχανική | |
| heal.classificationURI | **N/A**-Ηλεκτρονική | |
| heal.dateAvailable | 10000-01-01 | |
| heal.language | en | |
| heal.access | forever | |
| heal.journalName | IET Biometrics | en |
| heal.journalType | peer-reviewed | |
| heal.fullTextAvailability | true |
Οι παρακάτω άδειες σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο: