dc.contributor.author | Κίτσος, Χρήστος Παρ. | el |
dc.date.accessioned | 2014-12-25T10:19:21Z | |
dc.date.available | 2014-12-25T10:19:21Z | |
dc.date.issued | 2014-12-25 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11400/3174 | |
dc.rights | Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες | * |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ | * |
dc.source | Εκδόσεις Νέων Τεχνολογιών | el |
dc.subject | Taguchi methods (Quality control) | |
dc.subject | Industrial statistics | |
dc.subject | Βιομηχανική στατιστική | |
dc.subject | Ολική ποιότητα | |
dc.subject | Θεωρία αξιοπιστίας | |
dc.title | Διαχείριση και στατιστικός έλεγχος ποιότητας | el |
heal.type | book | |
heal.classification | Technology | |
heal.classification | Electronics | |
heal.classification | Τεχνολογία | |
heal.classification | Ηλεκτρονική | |
heal.classificationURI | http://zbw.eu/stw/descriptor/10470-6 | |
heal.classificationURI | http://zbw.eu/stw/descriptor/10455-2 | |
heal.classificationURI | **N/A**-Τεχνολογία | |
heal.classificationURI | **N/A**-Ηλεκτρονική | |
heal.keywordURI | http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh88006493 | |
heal.keywordURI | http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh85065948 | |
heal.identifier.secondary | 960-8105-54-4 | |
heal.language | el | |
heal.access | campus | |
heal.recordProvider | Τ.Ε.Ι. Αθήνας, Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών, Τμήμα Μηχανικών Πληροφορικής | el |
heal.publicationDate | 2003 | |
heal.bibliographicCitation | Kίτσος, X.Π.(2003). Διαχείριση και στατιστικός έλεγχος ποιότητας. Αθήνα: Νέων Τεχνολογιών | el |
heal.numberOfPages | 391 σελ. | |
heal.publisher | Νέων Τεχνολογιών | el |
heal.fullTextAvailability | true |
Οι παρακάτω άδειες σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο: