Η τεχνική του Φθορισμού των Ακτίνων Χ (X-Ray Fluorescence) είναι μια καθιερωμένη αναλυτική τεχνική που χρησιμοποιείται σήμερα σε ένα ευρύ φάσμα διεπιστημονικών εφαρμογών. Τα ιδιαίτερα χαρακτηριστικά της τεχνικής XRF είναι ο ταυτόχρονος και γρήγορος προσδιορισμός στοιχείων από όλον σχεδόν τον περιοδικό πίνακα (Ζ=14-92), αλλά και η μεγάλη ευαισθησία στην ανάλυση με ανιχνευτικά όρια που κυμαίνονται συνήθως στην περιοχή των μg/g (ppm). Ως χαρακτηριστικές εφαρμογές της μεθόδου θα μπορούσαν να αναφερθούν ο προσδιορισμός της σύστασης μεταλλικών κραμάτων αλλά και λεπτών υμενίων με τεχνολογικές εφαρμογές, ιχνοστοιχείων σε περιβαλλοντικά δείγματα (έδαφος, αερολύματα που έχουν εναποτεθεί σε φίλτρα), καθώς επίσης και η μη καταστροφική ανάλυση αρχαιολογικών αντικειμένων και έργων τέχνης κ.α. Σε αυτήν την εργασία αναπτύσσονται εκπαιδευτικές προτάσεις για αξιοποίηση της μεθόδου φασματοσκοπίας φθορισμού ακτίνων Χ, μέσα από την επιβεβαίωση της ισχύος των νόμων Moseley και Beer-Lambert.The technique of X-ray Fluorescence (XRF) is an important tool, which is used as an analytic method in a broad spectrum of interdisciplinary applications. The specific characteristics of this technique are the simultaneous and expeditious determination of the elements from almost the whole periodical Table (Z=14-92), also the high sensitivity in the analysis with detective border, which usually vary in the range of μg/g (ppm). As characteristic applications of the method could refer the determination of the consistence of metallic alloys and also of thin layers with technological applications, the traces in environmental probes (soil, aerosols deposed in filter) and also in the non destructive analysis of archaeological objects and works of art. In the present work we show a number of measurements on different probes and suggest also the possibilities to use the method for educational purposes for physics undergraduate Labs: a) the verification of the low of Moseley, b) the Compton effect and c) the low of X rays absorption.