dc.contributor.author | Βογιατζής, Ιωάννης | el |
dc.contributor.author | Ευσταθίου, Κωνσταντίνος Η. | el |
dc.date.accessioned | 2015-03-16T09:25:48Z | |
dc.date.issued | 2015-03-16 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11400/8045 | |
dc.rights | Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες | * |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ | * |
dc.source | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/freeabs_all.jsp?arnumber=1708660&abstractAccess=no&userType=inst | el |
dc.subject | Testing | |
dc.subject | Built in self test | |
dc.subject | Design for testability | |
dc.subject | Integrated circuit reliability | |
dc.subject | Self-testing | |
dc.subject | Χτισμένο σε αυτοέλεγχο | |
dc.subject | Σχεδιασμός για ελεγξιμότητα | |
dc.subject | Ολοκληρωμένη αξιοπιστία | |
dc.subject | Αυτο-δοκιμή | |
dc.title | Two-pattern generation based on accumulators with 1’s complement adders | en |
heal.type | conferenceItem | |
heal.classification | Computer science | |
heal.classification | Computer programming | |
heal.classification | Πληροφορική | |
heal.classification | Προγραμματισμός | |
heal.classificationURI | http://data.seab.gr/concepts/77de68daecd823babbb58edb1c8e14d7106e83bb | |
heal.classificationURI | http://skos.um.es/unescothes/C00749 | |
heal.classificationURI | **N/A**-Πληροφορική | |
heal.classificationURI | **N/A**-Προγραμματισμός | |
heal.keywordURI | http://skos.um.es/unescothes/C04031 | |
heal.identifier.secondary | DOI: 10.1109/DTIS.2006.1708660 | |
heal.dateAvailable | 10000-01-01 | |
heal.language | el | |
heal.language | en | |
heal.access | forever | |
heal.recordProvider | Τεχνολογικό Εκπαιδευτικό Ίδρυμα Αθήνας.Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών.Τμήμα Μηχανικών Πληροφορικής | el |
heal.publicationDate | 2006 | |
heal.bibliographicCitation | Voyiatzis, I. & Efstathiou, C. (2006) Two-pattern generation based on accumulators with 1's complement adders. Design and Test of Integrated Systems in "Nanoscale Technology". 2006. DTIS . 5-7 September 2006.pp 365 - 369. | en |
heal.fullTextAvailability | false | |
heal.conferenceName | Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology, 2006. DTIS | en |
heal.conferenceItemType | poster |
Αρχεία | Μέγεθος | Μορφότυπο | Προβολή |
---|---|---|---|
Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο. |
Οι παρακάτω άδειες σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο: