dc.contributor.author | Αναστασιάδης, Κίμων | el |
dc.contributor.author | Σταύρακας, Ηλίας | el |
dc.contributor.author | Τριάντης, Δήμος Α. | el |
dc.contributor.author | Κυριαζόπουλος, Αντώνης | el |
dc.contributor.author | Νίνος, Κωνσταντίνος Δ. | el |
dc.date.accessioned | 2015-04-15T18:49:52Z | |
dc.date.issued | 2015-04-15 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11400/8414 | |
dc.rights | Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες | * |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ | * |
dc.source | http://www.inderscience.com/ | en |
dc.title | Rock damage estimation with dielectric loss (tanδ) measurements | en |
heal.type | journalArticle | |
heal.classification | Technology | |
heal.classification | Electrical engineering | |
heal.classification | Τεχνολογία | |
heal.classification | Ηλεκτρολογία Μηχανολογία | |
heal.classificationURI | http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh85133147 | |
heal.classificationURI | http://zbw.eu/stw/descriptor/18426-4 | |
heal.classificationURI | **N/A**-Τεχνολογία | |
heal.classificationURI | **N/A**-Ηλεκτρολογία Μηχανολογία | |
heal.dateAvailable | 10000-01-01 | |
heal.language | en | |
heal.access | forever | |
heal.publicationDate | 2006 | |
heal.bibliographicCitation | ANASTASIADIS, C., STAVRAKAS, I., TRIANTIS, D.A., KYRIAZOPOULOS, A. & NINOS, K.D. (2006). Rock damage estimation with dielectric loss (tanδ) measurements. International Journal of Microstructure and Materials Properties. [Online] 1 (3-4). p.421-429. Available from: http://www.inderscience.com/[Accessed 08/12/2006] | en |
heal.publisher | Inderscience Publishers | en |
heal.journalName | International Journal of Microstructure and Materials Properties | en |
heal.journalType | peer-reviewed | |
heal.fullTextAvailability | false |
Αρχεία | Μέγεθος | Μορφότυπο | Προβολή |
---|---|---|---|
Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο. |
Οι παρακάτω άδειες σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο: