Point-to-point resolution in x-ray microanalysis of thin coatings in the energy range 20-100keV

Νασιοπούλου, Ανδρούλα Γ.; Βαλαμόντες, Ευάγγελος Σ.
URI: http://hdl.handle.net/11400/10732
Ημερομηνία Δημοσίευσης: 1991
Τύπος Τεκμηρίου: Δημοσίευση σε περιοδικό
Όνομα Περιοδικού: Institute of Physics Conference Series
The lateral extent of the X-ray signal in X-ray microanalysis of thin overlayers is calculated systematically, by using Monte Carlo simulations. Different primary beam energies in the range 20-100keV and different film thicknesses are considered. A Point-Spread-Function composed of two Gaussian curves is determined for each point and the Rayleigh criterion is used in order to calculate the corresponding point-to-point resolution.
Θέμα: Technology, Electrical engineering, Τεχνολογία, Ηλεκτρολογία Μηχανολογία

Εμφάνιση πλήρους εγγραφής

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Οι παρακάτω άδειες σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο:

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)

Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες Εκτός από όπου ορίζεται κάτι διαφορετικό, αυτή η άδεια περιγράφεται ως Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ηνωμένες Πολιτείες